ГОСТ Р 71334-2024 Структуры эпитаксиальные. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев кремния в структурах типа кремний на сапфире на основе инфракрасной интерференции

Категории ГОСТ Р 71334-2024 по ОКС:
Статус документа:
действует, введён в действие 01.03.2025
Название на английском языке:
Epitaxial structures. Мethod for measuring the thickness of epitaxial silicon layers in structures of the silicon-on-sapphire type based on IR interference
Дата актуализации информации по стандарту:
25.08.2025, в 09:45 (менее месяца назад)
Вид стандарта:
временно не известен
Дата начала действия ГОСТа:
2025-03-01
Число страниц:
8
Назначение ГОСТ Р 71334-2024:
не указано
Нормативные ссылки, связанные с ГОСТ Р 71334-2024:

Скачать ГОСТ Р 71334-2024 вы можете в следующих версиях:

В данный момент версий документа для скачивания не добавлено.

Мы стараемся пополнять базу документов еженедельно и из разных источников, в обозримом будущем версии для этого ГОСТа появятся.

Вы можете просмотреть online текст стандарта ГОСТ Р 71334-2024

Просмотреть текст ГОСТ Р 71334-2024

Текст стандарта

  • ГОСТ Р 71334-2024, страница 1 страница 1
  • ГОСТ Р 71334-2024, страница 2 страница 2
  • ГОСТ Р 71334-2024, страница 3 страница 3
  • ГОСТ Р 71334-2024, страница 4 страница 4
  • ГОСТ Р 71334-2024, страница 5 страница 5
  • ГОСТ Р 71334-2024, страница 6 страница 6
  • ГОСТ Р 71334-2024, страница 7 страница 7
  • ГОСТ Р 71334-2024, страница 8 страница 8