Категории ОКС

Поиск ГОСТов по категориям Общероссийского Классификатора Стандартов
Категории ОКС в развёрнутом виде

Условные обозначения

Иконки файлов и свойства документа
- иконка ГОСТа;

Типы файлов

- документ представлен набором отсканированных изображений;
- документ можно скачать одним PDF файлом, файл состоит из не распознанных отcканированных страниц;
- документ можно скачать одним PDF файлом с распознанным текстом;
- документ можно скачать одним PDF файлом, внутри файла работают ссылки на другие ГОСТ'ы, текст распознан

Статусы ГОСТов

- документ действует в настоящий момент (статус ГОСТа - Действующий);
- документ отменён (статус ГОСТа - Отменён);
- документ заменён (статус ГОСТа - Заменён);
- ГОСТ не действует на территории РФ;

ГОСТ 8.592-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления

Категории ГОСТ 8.592-2009 по ОКС:
Статус документа:
действует, введён в действие 01.11.2010
Название на английском языке:
State system for ensuring the uniformity of measurements. Single-crystal silicon nanometer range relief measures. Geometrical shapes, linear size and manufacturing material requirements
Дата актуализации информации по стандарту:
10.09.2019, в 13:15 (менее года назад)
Вид стандарта:
Основополагающие стандарты
Дата начала действия ГОСТа:
2010-11-01
Дата последнего издания документа:
2010-06-08
Коды документа ГОСТ 8.592-2009:
Код КГС:
Т88
Число страниц:
12
Назначение ГОСТ 8.592-2009:
Настоящий стандарт устанавливает требования к геометрическим формам и линейным размерам, а также к выбору материала для изготовления рельефных мер нанометрового диапазона из монокристаллического кремния для диапазона линейных измерений от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м. Настоящий стандарт распространяется на рельефные меры, предназначенные для проведения всех видов поверок растровых электронных микроскопов по ГОСТ 8.594 и сканирующих зондовых атомно-силовых микроскопов по ГОСТ 8.593 при проведении метрологического контроля (надзора), а также на рельефные меры, используемые при калибровке указанных типов микроскопов
Документ разработан орг-ей:
Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Документ принят орг-ей:
Межгосударственный Совет по стандартизации метрологии и сертификации, протокол №36-2009
Ключевые слова документа:
длина, зондовые сканирующие атомно-силовые микроскопы, материал, монокристаллической кремний, размеры, растровые электронные микроскопы, рельефные меры нанометрового диапазона, формы
Нормативные ссылки из текста ГОСТ 8.592-2009:

Скачать ГОСТ 8.592-2009 вы можете в следующих версиях:

В данный момент версии документа не доступны для скачивания. Приносим извинения за предоставленные неудобства.

Вы можете просмотреть версии ГОСТ 8.592-2009, доступные для скачивания, возможно документ есть там в PDF формате.