Категории ОКС
Поиск ГОСТов по категориям Общероссийского Классификатора Стандартов-
IT, электроника и бытовая техника
-
Добыча и переработка
-
Производство и строительство
-
Промышленность
-
Техника и оборудование
-
Общие положения
01.
-
Услуги, управление и социология
03.
-
Математика, естественные науки
07.
-
Здравоохранение
11.
-
Охрана окружающей среды
13.
-
Метрология и измерения. Физические явления.
17.
-
Испытания.
19.
-
Технология получения изображений.
37.
-
Точная механика. Ювелирное дело.
39.
Классификатор ОКПД 2
поиск кода ОКПД 2 онлайн, все категории классификатораУсловные обозначения
Иконки файлов и свойства документа- - иконка ГОСТа;
Типы файлов
- - документ представлен набором отсканированных изображений;
- - документ можно скачать одним PDF файлом, файл состоит из не распознанных отcканированных страниц;
- - документ можно скачать одним PDF файлом с распознанным текстом;
- - документ можно скачать одним PDF файлом, внутри файла работают ссылки на другие ГОСТ'ы, текст распознан
Статусы ГОСТов
- - документ действует в настоящий момент (статус ГОСТа - Действующий);
- - документ отменён (статус ГОСТа - Отменён);
- - документ заменён (статус ГОСТа - Заменён);
- - ГОСТ не действует на территории РФ;
ГОСТ Р 8.696-2010
Скачать ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра
Категории ГОСТ Р 8.696-2010 по ОКС:- 17. Метрология и измерения. Физические явления.
- 17.40. Линейные и угловые измерения *включая геометрические характеристики (gps)
- 17.40.01 Линейные и угловые измерения в целом
- Статус документа:
- действует
- Назначение ГОСТ Р 8.696-2010:
- Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус14 до 10 в ст. минус 6 А. Настоящий стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния
- Поправки и изменения к ГОСТ Р 8.696-2010
- стандарт не имеет поправок
Доступные для скачивания версии ГОСТ :
В данный момент версии документа не доступны для скачивания. Приносим извинения за предоставленные неудобства.