Категории ОКС

Поиск ГОСТов по категориям Общероссийского Классификатора Стандартов
Категории ОКС в развёрнутом виде

Условные обозначения

Иконки файлов и свойства документа
- иконка ГОСТа;

Типы файлов

- документ представлен набором отсканированных изображений;
- документ можно скачать одним PDF файлом, файл состоит из не распознанных отcканированных страниц;
- документ можно скачать одним PDF файлом с распознанным текстом;
- документ можно скачать одним PDF файлом, внутри файла работают ссылки на другие ГОСТ'ы, текст распознан

Статусы ГОСТов

- документ действует в настоящий момент (статус ГОСТа - Действующий);
- документ отменён (статус ГОСТа - Отменён);
- документ заменён (статус ГОСТа - Заменён);
- ГОСТ не действует на территории РФ;

ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

Категории ГОСТ Р 8.698-2010 по ОКС:
Статус документа:
действует, введён в действие 01.09.2010
Название на английском языке:
State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer
Дата актуализации информации по стандарту:
18.09.2019, в 13:27 (менее года назад)
Вид стандарта:
Стандарты на методы контроля
Дата начала действия ГОСТа:
2010-09-01
Дата последнего издания документа:
2019-07-15
Коды документа ГОСТ Р 8.698-2010:
Код КГС:
Т86.1
Число страниц:
40
Назначение ГОСТ Р 8.698-2010:
Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра: - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. Настоящий стандарт распространяется на: - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды; - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках
Ключевые слова документа:
методика выполнения измерений, моно- и полидисперсные системы наночастиц, наночастицы, период повторения, рентгеновский малоугловой дифрактометр, тонкие многослойные пленки, электронный радиус инерции
Нормативные ссылки из текста ГОСТ Р 8.698-2010:

Скачать ГОСТ Р 8.698-2010 вы можете в следующих версиях:

В данный момент версии документа не доступны для скачивания. Приносим извинения за предоставленные неудобства.

Вы можете просмотреть версии ГОСТ Р 8.698-2010, доступные для скачивания, возможно документ есть там в PDF формате.